|
реклама |
|
|
|
|
|
|
Авиакосмическое приборостроение Аннотация к статье << Назад
СОВРЕМЕННЫЙ ПОДХОД К ДИАГНОСТИЧЕСКОМУ НЕРАЗРУШАЮЩЕМУ КОНТРОЛЮ ПРОГРАММИРУЕМЫХ ЛОГИЧЕСКИХ ИНТЕГРАЛЬНЫХ СХЕМ |
М.И. Краснов, А.А. Сашов
В настоящее время оценка надежности программируемых логических интегральных схем (ПЛИС) является актуальной задачей, т.к. надежность аппаратуры во многом обусловлена качеством ПЛИС. Появление на рынке контрафактных ПЛИС и частое нарушение условий хранения увеличивает актуальность задачи оценки их надежности. В данной работе предлагаются несколько методов диагностического неразрушающего контроля (ДНК) для оценки надежности ПЛИС. Ключевые слова: диагностический неразрушающий контроль ПЛИС, надежность ПЛИС, надежность аппаратуры космических аппаратов.
Контактная информация: E-mail: mike.krasnov@gmail.com
Стр. 3-8. |
|
|
|
Последние новости:
Выставки по автоматизации и электронике «ПТА-Урал 2018» и «Электроника-Урал 2018» состоятся в Екатеринбурге Открыта электронная регистрация на выставку Дефектоскопия / NDT St. Petersburg Открыта регистрация на 9-ю Международную научно-практическую конференцию «Строительство и ремонт скважин — 2018» ExpoElectronica и ElectronTechExpo 2018: рост площади экспозиции на 19% и новые формы контент-программы Тематика и состав экспозиции РЭП на выставке "ChipEXPO - 2018" |