|
реклама |
|
|
|
|
|
|
Авиакосмическое приборостроение Аннотация к статье << Назад
Оценка влияния разрушающего физического анализа на характеристики безотказности изделий микроэлектроники, устанавливаемых в бортовую аппаратуру космических аппаратов |
В.В. Федосов, В.Е. Патраев
Предложен метод оценки влияния разрушающего физического анализа (РФА) изделий микроэлектроники на качество партий электрорадиоизделий (ЭРИ), предназначенных для использования в аппаратуре космических аппаратов. Конт. тел.: (495) 687-35-17 |
|
|
|
Последние новости:
Выставки по автоматизации и электронике «ПТА-Урал 2018» и «Электроника-Урал 2018» состоятся в Екатеринбурге Открыта электронная регистрация на выставку Дефектоскопия / NDT St. Petersburg Открыта регистрация на 9-ю Международную научно-практическую конференцию «Строительство и ремонт скважин — 2018» ExpoElectronica и ElectronTechExpo 2018: рост площади экспозиции на 19% и новые формы контент-программы Тематика и состав экспозиции РЭП на выставке "ChipEXPO - 2018" |