 |
advertisement |
|
|
|
|
|
|
|
Aerospace Instrument-Making Annotation << Back
|
Имитационная модель для оценки
результативности функционирования
информационно-измерительной системы |
Поздняков А.А., Мартынов А.М., Емельянов И.П.
На сегодняшний день качественное оценивание информационно-измерительных систем
(ИИС) осуществляется по принципу апостериорного исследования на основании полученных статистических данных о работе системы в целом. При этом не учитываются перспективные проблемы, основной из которых является загруженность зоны обзора объектами наблюдения (ОН). Для ИИС различного класса существенное усложнение обстановки
в зоне обзора, основанное, в первую очередь на увеличении количества объектов наблюдения
является основной проблемой. Для каждого ИИС в их характеристиках предусматривается пропускная способность. Эта характеристика ещё на этапе проектирования определяется исходя из реальных условий работы по ОН с учётом обеспечения их гарантийного наблюдения. Однако, исходя из сказанного выше, получается, что современные ИИС в зависимости от дислокации и направления зоны обзора уже работают на пределах своих возможностей по пропускной способности или это случится в ближайшем будущем. Исходя
из актуальности описанной проблемы, представляет интерес вопрос имитации работы
ИИС по ОН в условиях предельных нагрузок с точки зрения пропускной способности с целью оценки реальной вероятности формирования информации о ОН, а также определения
факторов, оказывающих негативное влияние на рассмотренные показатели.
DOI: 10.25791/aviakosmos.11.2023.1373
Pp. 22-33. |
|
|
|
Last news:
Выставки по автоматизации и электронике «ПТА-Урал 2018» и «Электроника-Урал 2018» состоятся в Екатеринбурге Открыта электронная регистрация на выставку Дефектоскопия / NDT St. Petersburg Открыта регистрация на 9-ю Международную научно-практическую конференцию «Строительство и ремонт скважин — 2018» ExpoElectronica и ElectronTechExpo 2018: рост площади экспозиции на 19% и новые формы контент-программы Тематика и состав экспозиции РЭП на выставке "ChipEXPO - 2018" |